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표면 청정도/이물 관리 장치 I 표면 입자 계수기
  • 기존 입자계수기(Particle Counters)나 검사장치(Inspectors)들로는 검사가 불가능 했던 시료를 검사하는 입자계수기입니다.
    S2 Counter 시리즈는 표면(surface), 기체(Air, Gas), 액체(Liquid, Chemical) 중의 이물(Dusts)과 파티클(Particles), 보푸라기(Fibers, Lints)을 직접적으로 검출, 계수하기 위하여 개발된 세계 유일의 장치이며 JEDEX Inc.의 특허 제품입니다.
    또한 이물 및 파티클 채취용으로 독자 개발되어 특허 등록된 이물 및 입자 채취 필름(Particle Sampling Film)인 JEDEX 사의 DD 시리즈를 이용하여 매우 편리하게 계수할 수 있습니다.
    이러한 개발의 성과로서 S2 시리즈는 매우 빠르고 정확하게 실제적인 이물 (Dusts, Particles, Fibers, Lints )의 계수와 그 형상의 확인을 할 수 있습니다. S2 시리즈는 기존의 입자계수기(Airborne, Liquid, Surface)들로는 검사가 불가능 하거나 어려웠던 제품 및 원재료, 포장재 등 다양한 시료에 대한 이물(Dusts, Particles, Fibers, Lints) 검사가 가능합니다.
활용분야
  • Tray, Case, Bag,Magazine, Jigs 내 외면의 이물(Dusts, Particles, Fibers, Lints)검사
  • Film, Window glass, PCB 등 제품용 부품의 부착 이물 (Dusts, Particles, Fibers, Lints) 검사
  • Cleanroom 의 표면 청정도 (Surface Cleanliness) 의 검사 및 관리
  • 제조장치의 내 외부 부착 이물(Dusts, Particles, Fibers, Lints) 검사
  • Cleanroom supplies (Garments, Masks, Gloves, Papers, Caps, Shoes etc.)의 이물(Dusts, Particles, Fibers, Lints) 검사
  • 제조장치의 부품 cleaning, 장치부품 제조, 장치 부품의 재생 및 코팅 후 의 표면 이물(Dusts, Particles, Fibers, Lints) 검사
  • 그외 다양한 분야에서 활용되고 있습니다.
특장점
  • 신속 정확한 이물, Particle계수
  • 이물 이미지의 저장 및 보관
  • 샘플링 필름을 이용함으로써 비파괴 검사
  • 필요에 따라 이물 영상 확보와 계수를 분리
  • 이물의 크기를 직경, 면적 등 다양한 형태로 분리 계수 가능
  • 유선 Lan, 무선 Lan (Wifi), 블루투스, USB 등 다양한 데이터 전달 수단을 구비
  • 터치 화면 채용
  • 스프레드시트 보고서 제공
  • 룸, 장비 주요부 방치용 샘플링용 홀더 등 다양한 액세서리 제공
  • Particle Sampling Film의 시험지 경제적 가격 지속 제공 및 지속적인 Sampling Film의 개발 공급
산업분야
IT Display (OLED, LCD) 제조 / Semiconductor 제조 / 반도체 및 디스플레이 제조 장치 / 장치용 부품의 제조 및 세정 / 모바일 기기 및 부품 제조 / 의료기기 제조 / 정밀전자산업 / 광학기기 및 부품 제조 / 우주항공 / 자동차 / 병원 및 의료 / 크린룸 제조 환경 / 청정용품 제조 및 세탁 / 필름류의 제조 및 가공업 / Glass 제조 및 가공 / 식품 및 요식업 / 이물 관리를 필요로 하는 다양한 산업